半導體製程完整流程圖:長晶 → 前段 → 後段
▶ 用簡報模式看(適合會議投影)依公開教科書、產業資料與報導整理的一般流程示意,各廠實際步驟與配方不同。
點任一個分頁切換流程圖。每一段的詳細說明與比較,請看長晶製程流程圖、前段製程流程圖、後段製程流程圖。
矽晶圓製造:從長晶到拋光片(上游)
所有晶片的起點。矽晶圓廠把純度 99.999999999%(11 個 9)的多晶矽熔化,用柴氏長晶法(CZ)拉出一根直徑 300 毫米、長約兩公尺的單晶矽棒,再切片、研磨、拋光到奈米級平坦,才交給晶圓廠做後面 4 種產品。功率元件用的碳化矽(SiC)晶圓則用昇華法(PVT)長晶,一小時只長零點幾毫米,是碳化矽晶圓貴的主因。
共 34 道製程(框起來重複的步驟只算一次)
時事AI 伺服器帶動先進製程與 HBM 擴產,12 吋矽晶圓需求回升;碳化矽晶圓則正從 6 吋轉向 8 吋,電動車與充電樁是主要用途。全球 12 吋矽晶圓由前五大廠供應九成以上,台灣也有大廠。
怎麼讀:每個模組一排、由上往下;每一站由上往下做,沿藍色箭頭接到下一站。點任一格可看說明。
- 多晶矽原料第 1–4 道
- 1電子級多晶矽進料純度 11N
- 2原料清洗酸洗去表面污染
- 3配料・摻質秤重硼(P 型)或磷(N 型)
- 4裝入石英坩堝
- 長晶第 5–12 道
- 5抽真空・充氬氣長晶爐
- 6熔融約 1420°C 熔化多晶矽
- 7下晶種
- 8縮頸排除差排
- 9放肩直徑逐漸放大到 300 mm
- 10等徑生長晶棒主體,長約 2 公尺
- 11收尾
- 12冷卻・取出晶棒
- 晶棒加工第 13–16 道
- 13晶棒檢測電阻率・氧含量・結晶缺陷
- 14去頭尾・切段
- 15外徑研磨
- 16定位槽加工Notch
- 切片與成形第 17–22 道
- 17多線切割鑽石線鋸
- 18切片後清洗・去膠
- 19倒角邊緣磨圓防崩邊
- 20雙面研磨Lapping/Grinding
- 21化學蝕刻去除損傷層
- 22施體消除退火Donor Killer
- 拋光第 23–25 道
- 23雙面拋光DSP
- 24邊緣拋光
- 25最終拋光單面精拋
- 清洗與檢驗第 26–30 道
- 26最終清洗RCA 清洗
- 27平坦度量測
- 28表面微粒檢測
- 29磊晶磊晶片才做
- 30磊晶後檢驗磊晶片才做
- 出貨第 31–34 道
- 31出貨檢驗外觀・缺陷・資料核對
- 32裝入晶圓運送盒FOSB
- 33真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑,抽真空封口
- 34送往晶圓廠接晶圓製造
- ✓ 拋光片完成,送往晶圓廠
先進邏輯晶片(3/2 奈米級,GAA 奈米片電晶體)
CPU、GPU、手機處理器、AI 加速器的運算晶片。以最新的環繞式閘極(GAA)奈米片電晶體為例,鰭式電晶體(FinFET)的流程大致相同、少了奈米片相關步驟。整顆晶片要數十層光罩,其中金屬導線就有十幾層。
共 67 道製程(框起來重複的步驟只算一次)
時事台積電 3 奈米(N3)用於 Apple、NVIDIA 等最新晶片,2 奈米(N2)改用 GAA 奈米片電晶體,2025 年下半年起量產。
怎麼讀:每個模組一排、由上往下;每一站由上往下做,沿藍色箭頭接到下一站。橘色虛線框裡的步驟要重複,框上標示次數。點任一格可看說明。
- 晶圓準備第 1–5 道
- 1晶圓進料12 吋矽晶圓(矽晶圓廠供應)
- 2進料檢驗平坦度・缺陷・微粒
- 3雷射刻號Wafer ID
- 4初始濕式清洗RCA 清洗:去微粒・有機物・金屬
- 5裝入晶圓傳送盒FOUP,之後全程在 FOUP 裡搬運
- 鰭片與隔離第 6–15 道
- 6矽/矽鍺超晶格磊晶GAA 奈米片的原料層
- 7硬遮罩沉積
- 8微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 9量測:線寬・疊對CD-SEM/Overlay
- 10鰭片蝕刻乾式電漿蝕刻
- 11去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 12淺溝槽隔離填充STI:氧化物沉積
- 13CMP 平坦化
- 14CMP 後清洗
- 15鰭片露出Fin Reveal:回蝕氧化物
- 井區佈植第 16–19 道
- ↻ 重複 ×數次(N 井、P 井、臨界電壓調整)
- 16微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 17離子佈植N 井/P 井
- 18去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 19快速熱退火RTA:活化摻質
- ↻ 重複 ×數次(N 井、P 井、臨界電壓調整)
- 虛擬閘極與間隙壁第 20–25 道
- 20閘極介電層・多晶矽沉積虛擬閘極
- 21微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 22量測:線寬・疊對CD-SEM/Overlay
- 23閘極蝕刻
- 24去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 25間隙壁沉積與蝕刻Spacer
- 源極/汲極第 26–30 道
- 26源汲極凹蝕
- 27內間隙壁GAA:隔開奈米片與源汲極
- 28清洗磊晶前清洗
- 29源汲極磊晶PMOS 矽鍺/NMOS 磷化矽
- 30雷射退火
- 金屬閘極置換第 31–37 道
- 31層間介電質沉積・CMPILD0
- 32移除虛擬閘極
- 33釋放奈米片選擇性蝕刻矽鍺
- 34清洗
- 35高介電常數閘極氧化層ALD:HfO₂
- 36功函數金屬ALD:調整臨界電壓
- 37閘極金屬填充・CMP
- 接觸第 38–46 道
- 38介電層沉積
- 39微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 40量測:線寬・疊對CD-SEM/Overlay
- 41接觸孔蝕刻
- 42去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 43矽化物形成降低接觸電阻
- 44接觸金屬填充鎢或鈷
- 45CMP 平坦化
- 46CMP 後清洗
- 金屬導線第 47–56 道
- ↻ 每一層金屬重複 ×12~15 層
- 47低介電常數介電層沉積Low-k
- 48微影:EUV 或多重曝光最細的幾層用 EUV
- 49量測:線寬・疊對CD-SEM/Overlay
- 50溝槽・通孔蝕刻雙鑲嵌 Dual Damascene
- 51去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 52阻障層・銅種子層PVD
- 53電鍍銅
- 54銅 CMP
- 55CMP 後清洗
- 56缺陷檢測
- ↻ 每一層金屬重複 ×12~15 層
- 頂層與鈍化第 57–61 道
- 57頂層厚金屬・鋁墊
- 58鈍化層沉積氮化矽・氧化矽
- 59微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 60開墊蝕刻Pad Open
- 61去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 晶圓測試第 62–63 道
- 62晶圓允收測試WAT:量測切割道上的測試結構
- 63晶圓針測CP:逐顆電性測試
- 出貨第 64–67 道
- 64出貨檢驗外觀・缺陷・資料核對
- 65裝入晶圓運送盒FOSB
- 66真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑,抽真空封口
- 67送往封測廠接後段製程
- ✓ 晶圓完成,送往封測廠
DRAM 記憶體(1β 奈米級)
電腦與手機的主記憶體,也是 HBM 的來源。每個記憶單元是「一個電晶體+一個電容」:字元線埋在矽裡(埋入式字元線),上方做位元線,最上面是又高又細的電容。HBM 用的 DRAM 晶圓還要另外做矽穿孔(TSV),才能一層層疊起來。
共 60 道製程(框起來重複的步驟只算一次)
時事AI 伺服器大量使用 HBM,記憶體大廠紛紛把產能轉向 HBM 用的 DRAM 晶圓,帶動 DRAM 漲價。
怎麼讀:每個模組一排、由上往下;每一站由上往下做,沿藍色箭頭接到下一站。橘色虛線框裡的步驟要重複,框上標示次數。點任一格可看說明。
- 晶圓準備第 1–5 道
- 1晶圓進料12 吋矽晶圓(矽晶圓廠供應)
- 2進料檢驗平坦度・缺陷・微粒
- 3雷射刻號Wafer ID
- 4初始濕式清洗RCA 清洗:去微粒・有機物・金屬
- 5裝入晶圓傳送盒FOUP,之後全程在 FOUP 裡搬運
- 主動區與隔離第 6–14 道
- 6硬遮罩沉積
- ↻ 多重曝光 ×2~4 次
- 7微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 8蝕刻・間隙壁轉移SAQP 等自對準多重圖形
- 9量測:線寬・疊對CD-SEM/Overlay
- 10主動區蝕刻
- 11去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 12淺溝槽隔離填充STI
- 13CMP 平坦化
- 14CMP 後清洗
- 埋入式字元線第 15–20 道
- 15微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 16字元線溝槽蝕刻
- 17去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 18閘極氧化
- 19閘極金屬填充氮化鈦/鎢
- 20凹蝕・絕緣封蓋
- 位元線第 21–28 道
- 21微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 22位元線接觸蝕刻
- 23去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 24位元線金屬沉積
- 25微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 26位元線蝕刻
- 27去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 28間隙壁沉積
- 儲存電容第 29–37 道
- 29儲存節點接觸SNC
- 30電容模具沉積高深寬比結構
- 31微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 32電容孔蝕刻深寬比 50 以上
- 33去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 34下電極沉積氮化鈦
- 35移除模具濕式蝕刻
- 36電容介電層ALD:高介電常數材料
- 37上電極沉積
- 周邊電晶體第 38–42 道
- ↻ 重複 ×數次(N 型、P 型)
- 38微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 39離子佈植
- 40去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 41周邊閘極
- 42快速熱退火RTA
- ↻ 重複 ×數次(N 型、P 型)
- 金屬導線第 43–49 道
- ↻ 每一層重複 ×3~4 層
- 43介電層沉積
- 44微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 45溝槽・通孔蝕刻
- 46去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 47金屬沉積鎢/銅/鋁
- 48CMP 平坦化
- 49CMP 後清洗
- ↻ 每一層重複 ×3~4 層
- 鈍化第 50–53 道
- 50鈍化層沉積
- 51微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 52開墊蝕刻
- 53去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 晶圓測試第 54–56 道
- 54晶圓允收測試WAT:量測切割道上的測試結構
- 55雷射修補用備援電路取代壞的記憶單元
- 56晶圓針測CP:逐顆電性測試
- 出貨第 57–60 道
- 57出貨檢驗外觀・缺陷・資料核對
- 58裝入晶圓運送盒FOSB
- 59真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑,抽真空封口
- 60送往封測廠接後段製程
- ✓ 晶圓完成,送往封測廠
3D NAND 快閃記憶體(200 層以上)
SSD、手機的儲存晶片。把記憶單元一層層往上疊,現在已經超過 200 層:先疊出幾百層薄膜,再一次蝕刻出深孔當作通道。很多廠把周邊電路做在記憶陣列正下方(CuA),或做在另一片晶圓再接合上去。
共 54 道製程(框起來重複的步驟只算一次)
時事AI 資料中心大量採用企業級 SSD,3D NAND 層數持續往 300 層以上推進。
怎麼讀:每個模組一排、由上往下;每一站由上往下做,沿藍色箭頭接到下一站。橘色虛線框裡的步驟要重複,框上標示次數。點任一格可看說明。
- 晶圓準備第 1–5 道
- 1晶圓進料12 吋矽晶圓(矽晶圓廠供應)
- 2進料檢驗平坦度・缺陷・微粒
- 3雷射刻號Wafer ID
- 4初始濕式清洗RCA 清洗:去微粒・有機物・金屬
- 5裝入晶圓傳送盒FOUP,之後全程在 FOUP 裡搬運
- 周邊電晶體第 6–13 道
- ↻ 重複 ×數次
- 6微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 7離子佈植
- 8去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 9周邊閘極
- 10快速熱退火RTA
- 11下層金屬導線
- 12CMP 平坦化
- 13CMP 後清洗
- ↻ 重複 ×數次
- 多層薄膜堆疊第 14–15 道
- ↻ 交替沉積 ×200~300 層
- 14氧化矽沉積
- 15氮化矽沉積
- ↻ 交替沉積 ×200~300 層
- 通道孔第 16–24 道
- ↻ 分段堆疊 ×2~3 段(Deck)
- 16硬遮罩沉積
- 17微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 18量測:線寬・疊對CD-SEM/Overlay
- 19通道孔蝕刻深寬比 60 以上
- 20去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 21電荷捕捉層沉積氧化物/氮化物/氧化物
- 22通道多晶矽沉積
- 23孔填充・CMP
- 24CMP 後清洗
- ↻ 分段堆疊 ×2~3 段(Deck)
- 階梯第 25–29 道
- ↻ 修整光阻+蝕刻 ×數十次
- 25微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 26階梯蝕刻
- 27光阻修整
- 28去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 29介電層填充・CMP
- ↻ 修整光阻+蝕刻 ×數十次
- 閘極置換第 30–35 道
- 30微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 31狹縫蝕刻
- 32去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 33移除氮化矽熱磷酸濕式蝕刻
- 34鎢填充字元線
- 35狹縫填充
- 接觸與導線第 36–48 道
- 36微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 37階梯接觸孔蝕刻深淺不一
- 38去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 39接觸金屬填充
- ↻ 每一層重複 ×2~3 層
- 40介電層沉積
- 41微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 42溝槽・通孔蝕刻
- 43去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 44金屬沉積
- 45CMP 平坦化
- 46CMP 後清洗
- 47鈍化層沉積
- 48開墊蝕刻
- 晶圓測試第 49–50 道
- 49晶圓允收測試WAT:量測切割道上的測試結構
- 50晶圓針測CP:逐顆電性測試
- 出貨第 51–54 道
- 51出貨檢驗外觀・缺陷・資料核對
- 52裝入晶圓運送盒FOSB
- 53真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑,抽真空封口
- 54送往封測廠接後段製程
- ✓ 晶圓完成,送往封測廠
功率元件(溝槽式 MOSFET/IGBT)
電動車、充電器、太陽能逆變器、工業馬達用的功率開關。以溝槽式 MOSFET 為例:電流垂直穿過晶圓,所以背面也要做金屬。IGBT 多一道背面佈植做集極;碳化矽(SiC)元件要 1600°C 以上的高溫活化,設備與晶圓都不同。多在 8 吋、6 吋廠生產,線寬以微米計。
共 41 道製程(框起來重複的步驟只算一次)
時事電動車與 AI 伺服器電源帶動碳化矽(SiC)、氮化鎵(GaN)功率元件需求,台灣廠商積極擴充 8 吋產能。
怎麼讀:每個模組一排、由上往下;每一站由上往下做,沿藍色箭頭接到下一站。點任一格可看說明。
- 晶圓準備第 1–5 道
- 1磊晶晶圓進料N⁺ 基板+N⁻ 磊晶層
- 2進料檢驗
- 3雷射刻號Wafer ID
- 4初始濕式清洗RCA 清洗
- 5裝入晶圓匣8/6 吋晶圓匣
- 溝槽閘極第 6–12 道
- 6硬遮罩沉積
- 7微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 8溝槽蝕刻
- 9去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 10犧牲氧化・移除修復溝槽表面
- 11閘極氧化高溫爐管
- 12多晶矽填充・回蝕
- 本體與源極第 13–20 道
- 13微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 14本體佈植P 型
- 15去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 16高溫驅入爐管
- 17微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 18源極佈植N⁺
- 19去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 20退火活化
- 正面金屬第 21–30 道
- 21層間介電質沉積
- 22微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 23接觸孔蝕刻
- 24去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 25阻障層鈦/氮化鈦
- 26厚鋁金屬沉積數微米
- 27微影:塗佈・曝光・顯影光阻 Track+掃描式曝光機
- 28金屬蝕刻
- 29去光阻・清洗灰化+濕式清洗
- 30鈍化保護層聚醯亞胺
- 背面第 31–35 道
- 31暫時貼合・晶圓薄化背面研磨
- 32背面研磨後清洗
- 33背面佈植IGBT 集極(MOSFET 不需要)
- 34背面雷射退火IGBT
- 35背面金屬鈦/鎳/銀
- 晶圓測試第 36–37 道
- 36晶圓允收測試WAT:量測切割道上的測試結構
- 37晶圓針測CP:逐顆電性測試
- 出貨第 38–41 道
- 38出貨檢驗外觀・缺陷・資料核對
- 39裝入晶圓運送盒FOSB
- 40真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑,抽真空封口
- 41送往封測廠接後段製程
- ✓ 晶圓完成,送往封測廠
導線架封裝(QFP/SOP)
最傳統的封裝:晶粒黏在金屬導線架上,用金線或銅線打線連接,接腳從四邊或兩邊伸出。整個流程沒有焊接錫球,所以沒有 Deflux。
共 39 道製程
常見製程節點:90 奈米以上成熟製程|車用 MCU、電源 IC、工控晶片
時事汽車的引擎控制、車身電子大量使用 QFP 封裝的微控制器(MCU)。2021 年全球車用晶片短缺,缺的就是這類成熟製程晶片。
怎麼讀:每一站由上往下做,做完沿著藍色箭頭接到下一站;並排的材料線同時各自進行,最後往下匯流會合。點任一格可看說明。
- 晶圓進料第 1–3 道
- 1晶圓進料前段晶圓廠出貨
- 2進料檢驗Incoming QC
- 3晶圓針測CP,可在前段或封測廠做
- 研磨切割第 4–10 道
- 4貼保護膠帶BG Tape
- 研磨機內建清洗
- 5背面研磨Back Grinding
- 6背面研磨後清洗去除研磨矽屑
- 7撕膠帶・貼切割膠帶Wafer Mount
- 切割機內建清洗
- 8晶圓切割Wafer Saw
- 9切割後清洗DI 水噴洗+旋乾
- 10切割後檢查AOI
- 晶圓送線第 11–13 道
- 11裝入框架匣Frame Cassette
- 12氮氣櫃暫存防氧化、防潮,依產品
- 13搬運到組裝線料車、AGV 或天車
- 導線架進料第 14 道
- 14導線架進料Leadframe
- 導線架送線第 15–16 道
- 15裝入料盒Magazine
- 16搬運到組裝線
- 組裝
- 黏晶打線第 17–23 道
- 17備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- 18黏晶前電漿清洗依產品,提升黏晶附著
- 19黏晶Die Attach,銀膠或 DAF
- 20銀膠烘烤Cure
- 21打線前電漿清洗去除焊墊有機污染
- 22打線Wire Bond
- 23打線後檢查3rd Optical
- 封膠與成型
- 封膠第 24–26 道
- 24封膠Molding
- 25後烘烤PMC
- 26去溢膠Deflash,化學浸泡+高壓水
- 電鍍成型第 27–31 道
- 電鍍線:連續槽體
- 27電鍍前處理除油・酸洗・水洗
- 28接腳電鍍鍍錫 Plating
- 29電鍍後水洗烘乾
- 30雷射打印Marking
- 31剪切成型Trim & Form
- 電鍍線:連續槽體
- 測試與出貨
- 測試第 32–34 道
- 32最終測試FT
- 33預燒測試Burn-in,高可靠度產品
- 34外觀檢查Visual/AOI
- 包裝出貨第 35–39 道
- 35裝入 Tray 或捲帶QFP 用 Tray,SOP 用料管或捲帶
- 36MSL 烘烤除濕依濕敏等級
- 內盒包裝機可一台串接完成
- 37真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑+濕度卡
- 38貼標・裝入內盒
- 39裝箱・棧板出貨
- ✓ 完成出貨
QFN/DFN(無接腳導線架)
接腳不外露、藏在封裝底部,整片導線架一起封膠後再切成單顆(MAP 製程)。同樣是打線,沒有 Deflux,清洗以切割與去溢膠為主。
共 40 道製程
常見製程節點:28 奈米以上成熟製程|電源管理、類比、RF、藍牙晶片
時事手機、藍牙耳機、智慧手錶裡的電源管理、充電與無線晶片常用 QFN/DFN:體積小、底部散熱好、成本低。
怎麼讀:每一站由上往下做,做完沿著藍色箭頭接到下一站;並排的材料線同時各自進行,最後往下匯流會合。點任一格可看說明。
- 晶圓進料第 1–3 道
- 1晶圓進料前段晶圓廠出貨
- 2進料檢驗Incoming QC
- 3晶圓針測CP,可在前段或封測廠做
- 研磨切割第 4–10 道
- 4貼保護膠帶BG Tape
- 研磨機內建清洗
- 5背面研磨Back Grinding
- 6背面研磨後清洗去除研磨矽屑
- 7撕膠帶・貼切割膠帶Wafer Mount
- 切割機內建清洗
- 8晶圓切割Wafer Saw
- 9切割後清洗DI 水噴洗+旋乾
- 10切割後檢查AOI
- 晶圓送線第 11–13 道
- 11裝入框架匣Frame Cassette
- 12氮氣櫃暫存防氧化、防潮,依產品
- 13搬運到組裝線料車、AGV 或天車
- 導線架進料第 14 道
- 14導線架進料Leadframe
- 導線架送線第 15–16 道
- 15裝入料盒Magazine
- 16搬運到組裝線
- 組裝
- 黏晶打線第 17–24 道
- 17備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- 18黏晶前電漿清洗依產品,提升黏晶附著
- 19黏晶Die Attach
- 20銀膠烘烤Cure
- 21打線前電漿清洗
- 22打線Wire Bond
- 23打線後檢查
- 24封膠前電漿清洗提升膠材附著力
- 封膠與切單
- 封膠第 25–27 道
- 25整片封膠MAP Molding
- 26後烘烤PMC
- 27去溢膠Deflash,高壓水
- 電鍍打印第 28–30 道
- 28接腳電鍍預鍍導線架(PPF)可省略
- 29雷射打印Marking
- 30貼切割膠帶
- 切單顆第 31–32 道
- 切割機內建清洗
- 31切單顆Package Saw
- 32切割後清洗去粉塵+吹乾
- 切割機內建清洗
- 測試與出貨
- 測試第 33–35 道
- 33最終測試FT
- 34預燒測試Burn-in,高可靠度產品
- 35外觀檢查Visual/AOI
- 包裝出貨第 36–40 道
- 36編帶入捲帶Tape & Reel
- 37MSL 烘烤除濕依濕敏等級
- 內盒包裝機可一台串接完成
- 38真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑+濕度卡
- 39貼標・裝入內盒
- 40裝箱・棧板出貨
- ✓ 完成出貨
打線 BGA(PBGA)
晶粒正面朝上黏在基板上打線,底部用錫球取代接腳。打線不用助焊劑,但植球要,所以有一次 Deflux。
共 42 道製程
常見製程節點:28 奈米以上成熟製程|消費性 SoC、網通與工控晶片;記憶體另有自己的製程世代
時事電腦與手機裡的 DRAM、SSD 裡的 NAND 快閃記憶體,常把多顆晶粒疊起來再打線,封裝成 BGA。
怎麼讀:每一站由上往下做,做完沿著藍色箭頭接到下一站;並排的材料線同時各自進行,最後往下匯流會合。點任一格可看說明。
- 晶圓進料第 1–3 道
- 1晶圓進料前段晶圓廠出貨
- 2進料檢驗Incoming QC
- 3晶圓針測CP,可在前段或封測廠做
- 研磨切割第 4–10 道
- 4貼保護膠帶BG Tape
- 研磨機內建清洗
- 5背面研磨Back Grinding
- 6背面研磨後清洗去除研磨矽屑
- 7撕膠帶・貼切割膠帶Wafer Mount
- 切割機內建清洗
- 8晶圓切割Wafer Saw
- 9切割後清洗DI 水噴洗+旋乾
- 10切割後檢查AOI
- 晶圓送線第 11–13 道
- 11裝入框架匣Frame Cassette
- 12氮氣櫃暫存防氧化、防潮,依產品
- 13搬運到組裝線料車、AGV 或天車
- 基板進料第 14 道
- 14基板進料・烘烤去除濕氣
- 基板送線第 15–17 道
- 15裝入料盒Magazine
- 16乾燥櫃暫存防潮,依產品
- 17搬運到組裝線
- 組裝
- 黏晶打線第 18–24 道
- 18備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- 19黏晶前電漿清洗依產品,提升黏晶附著
- 20黏晶Die Attach
- 21銀膠烘烤Cure
- 22打線前電漿清洗
- 23打線Wire Bond
- 24封膠前電漿清洗
- 封膠與植球
- 封膠第 25–27 道
- 25封膠Molding
- 26後烘烤PMC
- 27雷射打印Marking
- 植球第 28–32 道
- 28植球前電漿清洗依產品
- 植球連線段
- 29沾助焊劑Flux
- 30植球Ball Mount
- 31回焊Reflow
- 32植球後 Deflux洗錫球周圍助焊劑
- 切單顆第 33–34 道
- 切割後直接清洗
- 33切單顆Singulation
- 34切割後清洗
- 切割後直接清洗
- 測試與出貨
- 測試第 35–37 道
- 35最終測試FT
- 36預燒測試Burn-in,高可靠度產品
- 37外觀檢查Visual/AOI
- 包裝出貨第 38–42 道
- 38成品裝入 TrayJEDEC Tray
- 39MSL 烘烤除濕依濕敏等級
- 內盒包裝機可一台串接完成
- 40真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑+濕度卡
- 41貼標・裝入內盒
- 42裝箱・棧板出貨
- ✓ 完成出貨
覆晶 BGA(FCBGA/FCCSP)
晶粒翻面,用凸塊直接焊在基板上,再填 underfill。跟 Deflux 文章裡的流程圖是同一份資料。FCCSP 是小尺寸版本,常用封膠一次完成填膠(MUF)。
共 55 道製程
常見製程節點:40 奈米到 3 奈米|CPU、GPU、網通交換器晶片;高階產品多在 7 奈米以下
時事桌上型與筆電的 CPU、顯示卡 GPU(例如 NVIDIA GeForce 系列)、網通交換器晶片都是覆晶封裝:接點多、功耗高,打線撐不住。
怎麼讀:每一站由上往下做,做完沿著藍色箭頭接到下一站;並排的材料線同時各自進行,最後往下匯流會合。點任一格可看說明。
- 晶圓進料第 1–2 道
- 1晶圓進料前段晶圓廠出貨
- 2進料檢驗Incoming QC
- 凸塊第 3–8 道
- 3凸塊前電漿除渣Descum
- 4凸塊製作Bumping:PI・UBM・電鍍・回焊
- 5凸塊電鍍前後清洗前處理+電鍍後水洗
- 6去光阻後清洗去光阻・蝕刻種子層後
- 7凸塊回焊後清洗晶圓級,用晶圓清洗設備
- 8晶圓針測CP
- 研磨切割第 9–15 道
- 9貼保護膠帶BG Tape
- 研磨機內建清洗
- 10背面研磨Back Grinding
- 11背面研磨後清洗去除研磨矽屑
- 12撕膠帶・貼切割膠帶Wafer Mount
- 切割機內建清洗
- 13晶圓切割Wafer Saw
- 14切割後清洗DI 水噴洗+旋乾
- 15切割後檢查AOI
- 晶圓送線第 16–18 道
- 16裝入框架匣Frame Cassette
- 17氮氣櫃暫存防氧化、防潮,依產品
- 18搬運到組裝線料車、AGV 或天車
- 基板進料第 19 道
- 19基板進料・烘烤
- 分板第 20–21 道
- 分板後直接清洗
- 20分板Router 1/4 片
- 21分板後清洗去粉塵
- 分板後直接清洗
- 貼元件第 22–23 道
- SMT 連線段
- 22SMT 被動元件沾助焊劑・回焊
- 23Pad Deflux洗焊墊助焊劑
- SMT 連線段
- 基板送線第 24–26 道
- 24裝入料盒Magazine
- 25乾燥櫃暫存防潮,依產品
- 26搬運到組裝線
- 覆晶組裝
- 接合第 27–31 道
- 27備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- 覆晶連線段:輸送帶串接到清洗機
- 28沾/噴助焊劑Flux
- 29覆晶黏晶Flip Chip Attach
- 30回焊Reflow
- 31覆晶後 Deflux最關鍵:洗縫隙內助焊劑
- 填膠第 32–35 道
- 32烘乾Bake
- 33填膠前電漿清洗提升 underfill 流動與附著
- 34底部填膠Underfill
- 35填膠烘烤Cure
- 成品段
- 保護第 36–40 道
- 36封膠Molding
- 37封膠後清洗去溢膠・粉塵,有封膠才有
- 38上蓋前電漿清洗依產品
- 39上蓋Lid Attach+TIM
- 40雷射打印Marking
- 植球第 41–44 道
- 41植球前電漿清洗依產品
- 植球連線段
- 42沾助焊劑・植球Ball Mount
- 43回焊Reflow
- 44植球後 Deflux
- 切單顆第 45–46 道
- 切割後直接清洗
- 45切單顆Unit Saw
- 46切割後清洗去粉塵
- 切割後直接清洗
- 測試與出貨
- 測試第 47–50 道
- 47最終測試FT
- 48預燒測試Burn-in
- 49系統級測試SLT,高階晶片
- 50外觀檢查
- 包裝出貨第 51–55 道
- 51成品裝入 TrayJEDEC Tray
- 52MSL 烘烤除濕依濕敏等級
- 內盒包裝機可一台串接完成
- 53真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑+濕度卡
- 54貼標・裝入內盒
- 55裝箱・棧板出貨
- ✓ 完成出貨
晶圓級晶片尺寸封裝(WLCSP)
整片晶圓直接做封裝,切開後成品就是晶粒大小,沒有基板,所以只有一條線、不用會合。所有清洗都在晶圓狀態下進行。
共 32 道製程
常見製程節點:多為 28 奈米以上成熟製程|電源管理、感測器、RF 等小晶粒
時事iPhone 與 Android 手機主機板上許多小顆的電源管理、感測器、射頻晶片都是 WLCSP:沒有基板,晶片多大、封裝就多大。
怎麼讀:每一站由上往下做,做完沿著藍色箭頭接到下一站;並排的材料線同時各自進行,最後往下匯流會合。點任一格可看說明。
- 晶圓線
- 晶圓進料第 1–2 道
- 1晶圓進料前段晶圓廠出貨
- 2進料檢驗Incoming QC
- 重佈線第 3–15 道
- 3第一層保護層PI/PBO 塗佈・曝光・顯影・烘烤
- 4保護層除渣Descum
- 5濺鍍種子層Seed Sputter
- 6光阻・曝光・顯影
- 7重佈線電鍍前處理
- 8電鍍重佈線RDL Cu Plating
- 9重佈線電鍍後水洗
- 10去光阻・蝕刻種子層濕製程
- 11去光阻後清洗
- 12第二層保護層PI
- 13保護層除渣Descum
- 14UBM 前電漿清洗
- 15凸塊下金屬層UBM
- 植球第 16–18 道
- 植球連線段(晶圓級)
- 16印助焊劑・植球Ball Drop
- 17回焊Reflow
- 18晶圓級 Deflux洗錫球周圍助焊劑
- 植球連線段(晶圓級)
- 研磨切割第 19–26 道
- 19晶圓針測CP
- 研磨機內建清洗
- 20背面研磨Back Grinding
- 21背面研磨後清洗去除研磨矽屑
- 22背面保護膜Backside Laminate
- 23雷射打印Marking
- 切割機內建清洗
- 24晶圓切割Wafer Saw
- 25切割後清洗
- 26外觀檢查AOI
- 挑揀測試第 27–28 道
- 27挑揀入捲帶Pick & Place to Tape & Reel
- 28最終測試依產品
- 包裝出貨第 29–32 道
- 29MSL 烘烤除濕依濕敏等級
- 內盒包裝機可一台串接完成
- 30真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑+濕度卡
- 31貼標・裝入內盒
- 32裝箱・棧板出貨
- ✓ 完成出貨
扇出型封裝(Fan-out/InFO)
晶粒先放在暫時載板上封膠,再在上面做重佈線,把接點「扇出」到比晶粒更大的面積。以晶片先置(Chip-first)為例;台積電的 InFO 屬於這一類。
共 46 道製程
常見製程節點:16 奈米以下先進製程|手機處理器(首個量產產品是 16 奈米的 Apple A10)
時事台積電 2016 年用 InFO 封裝 iPhone 7 的 A10 處理器(Semiconductor Digest),讓處理器更薄、散熱更好,之後多代 iPhone 處理器延續 InFO 封裝。
怎麼讀:每一站由上往下做,做完沿著藍色箭頭接到下一站;並排的材料線同時各自進行,最後往下匯流會合。點任一格可看說明。
- 晶圓進料第 1–3 道
- 1晶圓進料前段晶圓廠出貨
- 2進料檢驗Incoming QC
- 3晶圓針測CP,可在前段或封測廠做
- 長銅柱第 4–5 道
- 4晶圓銅柱Cu Post
- 5銅柱電鍍前後清洗前處理+水洗・去光阻
- 研磨切割第 6–12 道
- 6貼保護膠帶BG Tape
- 研磨機內建清洗
- 7背面研磨Back Grinding
- 8背面研磨後清洗去除研磨矽屑
- 9撕膠帶・貼切割膠帶Wafer Mount
- 切割機內建清洗
- 10晶圓切割Wafer Saw
- 11切割後清洗DI 水噴洗+旋乾
- 12切割後檢查AOI
- 晶圓送線第 13–15 道
- 13裝入框架匣Frame Cassette
- 14氮氣櫃暫存防氧化、防潮,依產品
- 15搬運到組裝線料車、AGV 或天車
- 載板準備第 16–19 道
- 16載板塗離型層Carrier+Release Layer
- 17背面重佈線Backside RDL,PoP 用
- 18電鍍穿模銅柱TIV/TMV,PoP 用
- 19穿模銅柱電鍍後清洗PoP 用
- 載板送線第 20 道
- 20搬運到組裝線
- 置晶與封膠
- 置晶封膠第 21–25 道
- 21備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- 22置晶Die Placement,面朝上+DAF
- 23壓縮成型封膠Compression Molding
- 24封膠研磨磨到露出銅柱
- 25研磨後清洗去研磨殘渣
- 重佈線與植球
- 重佈線第 26–29 道
- 26多層重佈線PI・種子層・電鍍・蝕刻,重複數層
- 27重佈線除渣(重複數次)每層顯影後 Descum
- 28重佈線每層清洗(重複數次)電鍍前後・去光阻後
- 29凸塊下金屬層UBM
- 植球第 30–32 道
- 植球連線段(晶圓級)
- 30沾助焊劑・植球Ball Mount
- 31回焊Reflow
- 32晶圓級 Deflux
- 植球連線段(晶圓級)
- 拆載板與切單
- 拆載板切單第 33–38 道
- 33拆載板Carrier Debond
- 34拆載板後清洗去除殘膠
- 35背面開孔・堆疊PoP 用
- 36雷射打印Marking
- 切割機內建清洗
- 37切單顆Saw
- 38切割後清洗
- 測試與出貨
- 測試第 39–41 道
- 39最終測試FT
- 40預燒測試Burn-in,高可靠度產品
- 41外觀檢查Visual/AOI
- 包裝出貨第 42–46 道
- 42成品裝入 TrayJEDEC Tray
- 43MSL 烘烤除濕依濕敏等級
- 內盒包裝機可一台串接完成
- 44真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑+濕度卡
- 45貼標・裝入內盒
- 46裝箱・棧板出貨
- ✓ 完成出貨
CoWoS(2.5D 先進封裝)
材料來自三個地方:中介層晶圓、運算晶片(都來自晶圓廠)和 HBM 記憶體(來自記憶體廠),先在中介層上會合(CoW),做好的模組再和基板第二次會合(oS)。覆晶接合兩次加上植球,Deflux 至少三次。以下依公開文獻整理一般流程,以矽中介層的 CoWoS-S 為例。
共 73 道製程
常見製程節點:主流 7 奈米以下|AI 加速器:NVIDIA H100(4 奈米級)、B200、B300(4NP);首批量產是 2013 年 28 奈米 FPGA
時事NVIDIA H100、B200(TechInsights),到最新的 B300(Blackwell Ultra,CoWoS-L,HBM3E 改成 12 層堆疊、容量 288 GB;TrendForce)等 AI 加速器,都用 CoWoS 把 GPU 和 HBM 記憶體封在一起。AI 需求暴增,CoWoS 產能成了 AI 晶片出貨的瓶頸(AI Weekly)。
怎麼讀:每一站由上往下做,做完沿著藍色箭頭接到下一站;並排的材料線同時各自進行,最後往下匯流會合。點任一格可看說明。
- 中介層第 1–6 道
- 1矽穿孔TSV 蝕刻・絕緣層・填銅・研磨
- 2CMP 後清洗
- 3正面重佈線Interposer RDL
- 4重佈線除渣(重複數次)Descum
- 5重佈線每層清洗(重複數次)電鍍前後・去光阻後
- 6微凸塊焊墊Micro-bump Pad
- 中介層送線第 7–8 道
- 7裝入晶圓傳送盒FOUP
- 8搬運到組裝線天車或 AGV
- 微凸塊第 9–11 道
- 9SoC 晶圓微凸塊Micro-bump
- 10微凸塊電鍍前後清洗前處理+水洗・去光阻
- 11晶圓針測CP,挑良品晶粒 KGD
- 研磨切割第 12–15 道
- 研磨機內建清洗
- 12研磨
- 13背面研磨後清洗去除研磨矽屑
- 切割機內建清洗
- 14切割
- 15切割後清洗
- 研磨機內建清洗
- 晶圓送線第 16–18 道
- 16裝入框架匣Frame Cassette
- 17氮氣櫃暫存防氧化、防潮,依產品
- 18搬運到組裝線料車、AGV 或天車
- HBM第 19 道
- 19HBM 堆疊進料已堆疊好的記憶體
- HBM 送線第 20–21 道
- 20拆包・乾燥櫃暫存
- 21搬運到組裝線
- 基板進料第 22 道
- 22基板進料・烘烤
- 基板送線第 23–25 道
- 23裝入料盒Magazine
- 24乾燥櫃暫存防潮,依產品
- 25搬運到組裝線
- CoW
- CoW 接合第 26–29 道
- 26備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- CoW 接合段:回焊接合時可連線
- 27沾助焊劑Flux
- 28晶片接合回焊或熱壓接合 TCB
- 29CoW Deflux最難洗:間距 25µm 以下的微凸塊
- 填膠封膠第 30–36 道
- 30烘乾
- 31填膠前電漿清洗
- 32底部填膠Underfill
- 33填膠烘烤Cure
- 34晶圓級封膠Wafer Molding
- 35封膠研磨
- 36研磨後清洗
- 中介層背面
- 背面切割第 37–48 道
- 37黏暫時載板Temporary Bond
- 38背面研磨・露出 TSVTSV Reveal
- 39露出 TSV 後 CMP 清洗
- 40背面保護層・重佈線
- 41背面重佈線清洗電鍍前後・去光阻後
- 42C4 凸塊電鍍+回焊
- 43凸塊後清洗依製程
- 44拆載板Debond
- 45拆載板後清洗去除殘膠
- 切割機內建清洗
- 46CoW 切割Wafer Saw
- 47切割後清洗
- 48CoW 測試
- 模組送 oS 線第 49–50 道
- 49裝入 Tray
- 50搬運到組裝線
- oS
- oS 接合第 51–55 道
- 51備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- 覆晶連線段:輸送帶串接到清洗機
- 52沾助焊劑Flux
- 53覆晶接合CoW on Substrate
- 54回焊Reflow
- 55oS Deflux大尺寸、縫隙窄
- 填膠上蓋第 56–61 道
- 56烘乾
- 57填膠前電漿清洗
- 58底部填膠Underfill
- 59填膠烘烤Cure
- 60上蓋前電漿清洗依產品
- 61上蓋・加強環Lid/Stiffener+TIM
- 植球與測試
- 植球第 62–65 道
- 62植球前電漿清洗依產品
- 植球連線段
- 63沾助焊劑・植球Ball Mount
- 64回焊Reflow
- 65植球後 Deflux
- 測試第 66–68 道
- 66最終測試FT
- 67系統級測試SLT
- 68外觀檢查
- 包裝出貨第 69–73 道
- 69成品裝入 TrayJEDEC Tray
- 70MSL 烘烤除濕依濕敏等級
- 內盒包裝機可一台串接完成
- 71真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑+濕度卡
- 72貼標・裝入內盒
- 73裝箱・棧板出貨
- ✓ 完成出貨
CoPoS(面板級 2.5D 封裝,開發中)
把 CoWoS 的圓形晶圓中介層換成 310×310 mm 的方形面板,報導指出是 CoWoS-L/R(重佈線中介層)的方形延伸版本。會合關係與 CoWoS 相同。尚未量產、台積電未公開細節,以下為依公開資訊整理的預期流程。延伸閱讀:CoPoS 是什麼?跟 CoWoS 差在哪。
共 58 道製程
常見製程節點:預期為 3 奈米以下最先進製程|大尺寸 AI/HPC 晶片(2028 年後)
時事台積電 2026 年在采鈺龍潭建置 CoPoS 試產線,規劃 2028 下半年後在嘉義 AP7 量產,用來擴充 AI 晶片的先進封裝產能(經濟日報、T 客邦)。詳見 CoPoS 是什麼。
怎麼讀:每一站由上往下做,做完沿著藍色箭頭接到下一站;並排的材料線同時各自進行,最後往下匯流會合。點任一格可看說明。
- 面板中介層第 1–7 道
- 1面板載板310×310 mm Carrier
- 2塗離型層Release Layer
- 3多層重佈線Panel RDL
- 4重佈線除渣(重複數次)Descum
- 5重佈線每層清洗(重複數次)電鍍前後・去光阻後
- 6嵌入矽橋LSI,CoWoS-L 型
- 7微凸塊焊墊
- 中介層送線第 8–9 道
- 8裝入晶圓傳送盒FOUP
- 9搬運到組裝線天車或 AGV
- 微凸塊第 10–11 道
- 10SoC 晶圓微凸塊・針測KGD
- 11微凸塊電鍍前後清洗前處理+水洗・去光阻
- 研磨切割第 12–15 道
- 研磨機內建清洗
- 12研磨
- 13背面研磨後清洗去除研磨矽屑
- 切割機內建清洗
- 14切割
- 15切割後清洗
- 研磨機內建清洗
- 晶圓送線第 16–18 道
- 16裝入框架匣Frame Cassette
- 17氮氣櫃暫存防氧化、防潮,依產品
- 18搬運到組裝線料車、AGV 或天車
- HBM第 19 道
- 19HBM 堆疊進料
- HBM 送線第 20–21 道
- 20拆包・乾燥櫃暫存
- 21搬運到組裝線
- 基板進料第 22 道
- 22基板進料・烘烤
- 基板送線第 23–25 道
- 23裝入料盒Magazine
- 24乾燥櫃暫存防潮,依產品
- 25搬運到組裝線
- CoP
- CoP 接合第 26–29 道
- 26備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- CoP 接合段:方形面板適合輸送帶連線
- 27沾助焊劑Flux
- 28晶片接合Chip on Panel
- 29面板級 Deflux310 mm 寬要洗得均勻
- 填膠封膠第 30–36 道
- 30烘乾大面板整片乾燥
- 31填膠前電漿清洗
- 32底部填膠Underfill
- 33填膠烘烤
- 34面板封膠Panel Molding
- 35封膠研磨
- 36研磨後清洗
- 面板背面與切割
- 背面切割第 37–42 道
- 37拆載板Debond
- 38拆載板後清洗去除殘膠
- 39C4 凸塊
- 40凸塊後清洗依製程
- 切割機內建清洗
- 41面板切割Panel Saw
- 42切割後清洗
- 模組送 oS 線第 43–44 道
- 43裝入 Tray
- 44搬運到組裝線
- oS 與後段
- oS 接合第 45–49 道
- 45備料・批號配對Kitting:各路材料依批號配對、點數量
- 覆晶連線段
- 46覆晶接合到基板與 CoWoS 相同
- 47oS Deflux
- 48填膠前電漿清洗
- 49底部填膠・上蓋
- 植球第 50–52 道
- 50植球前電漿清洗依產品
- 植球連線段
- 51植球・回焊
- 52植球後 Deflux
- 測試第 53 道
- 53最終測試・SLT
- 包裝出貨第 54–58 道
- 54成品裝入 TrayJEDEC Tray
- 55MSL 烘烤除濕依濕敏等級
- 內盒包裝機可一台串接完成
- 56真空防潮包裝防潮袋+乾燥劑+濕度卡
- 57貼標・裝入內盒
- 58裝箱・棧板出貨
- ✓ 完成出貨
常見問題
半導體製程的順序是什麼?
大致分三段:先由矽晶圓廠長晶、切片、拋光做出空白晶圓;再到晶圓廠做前段製程,反覆沉積、微影、蝕刻、離子佈植、CMP,做出電晶體與十幾層金屬導線,完成後做晶圓測試;最後送到封測廠做後段,研磨、切割、黏晶、打線或覆晶、封膠、測試後出貨。
前段製程和後段製程差在哪?
前段在晶圓廠,對象是整片晶圓,在晶圓上做出電路,線寬是奈米等級;後段在封測廠,對象是切下來的晶片,把晶片接上外部線路、包起來保護並測試,尺寸是微米到毫米等級。
長晶算前段製程嗎?
不算。長晶是做晶圓的材料製程,由矽晶圓廠負責,在產業鏈上屬於上游材料。前段製程是從晶圓廠拿到拋光片之後才開始。
FEOL、MOL、BEOL 是什麼?跟後段製程一樣嗎?
這三個都是晶圓廠內部的分法:FEOL 做電晶體、MOL 做接觸、BEOL 做金屬導線,全部屬於前段製程。BEOL 雖然翻成「後段」,但跟封測廠的後段封裝不是同一件事,很容易混淆。
半導體上中下游是什麼?
這是產業鏈的分法:上游是 IC 設計與矽晶圓等材料,中游是晶圓製造,下游是封裝測試。所以晶圓製造在產業鏈上叫中游,在製程上叫前段,兩套說法指的是同一件事。
一顆晶片要經過幾道製程?
看產品。本站整理的一般流程中,長晶約 34 道、先進邏輯晶片的前段約 67 道(其中金屬導線那段要重複十幾次,實際上是好幾百道)、CoWoS 封裝約 73 道。實際晶圓廠的完整步驟常在一千道以上,且多為機密。